SL1840L-V1.0-硬件测试用例.xlsVIP

序号 测试项目 测试标准 设备 预期效果 测试结果

(合格/不合格) 测试现象备注

1 浪涌测试 直流电源，线对线(差模)，±2KV，10分钟，性能A 主板无死机和复位以及器件损坏 合格

2 浪涌测试 直流电源，线对低(共模)，±4KV，20分钟,性能A 合格

3 浪涌测试 通讯口，RS485+对地(共模)，±1KV，10分钟,性能A 合格

4 浪涌测试 通讯口，RS485-对地(共模)，±1KV，10分钟,性能A 合格

5 静电测试 对电源+/-，RS485+/-,接触放电8000V 主板无死机和复位以及器件损坏

6 射频场传导抗干扰性测试 试验强度：10V；幅度调节：80%AM(1KHZ) 标准要求在测试过程中查看通讯数据是否丢失，因条件所限，无法实时监控，测试完成后读数据正常

7 射频电磁场辐射抗扰性试验 80MHz～1000MHz(接地)垂直

80MHz～1000MHz(接地)水平 标准要求在测试过程中查看通讯数据是否丢失，因条件所限，无法实时监控，测试完成后读数据正常

8 EFT 直流电源口：2000V，频率：5KHz，脉冲：75；群间：0.3秒；时间：60S；试品电源：接通；试验模式：L+-；N+-；L-N+-；

接地，直流电源输入在EFT设备前端 EFT 硬件无损坏,主板没有死机和复位,继电器未乱动作;屏没有不可恢复的显示 合格

9 EFT 直流电源口：2000V，频率：5KHz，脉冲：75；群间：0.3秒；时间：60S；试品电源：接通；试验模式：L+-；N+-；L-N+-；

不接地，直流电源输入在EFT设备前端 EFT 硬件无损坏,主板没有死机和复位,继电器未乱动作;屏没有不可恢复的显示 合格

10 EFT 信号口：3000V，频率：5KHz，脉冲：75；群间：0.3秒；时间：60S；试品电源：接通；试验模式：POUT+-；

接地 EFT/耦合夹 合格

11 EFT 信号口：3000V，频率：5KHz，脉冲：75；群间：0.3秒；时间：60S；试品电源：接通；试验模式：POUT+-；

不接地 EFT/耦合夹 硬件无损坏,主板没有死机和复位,继电器未乱动作;屏没有不可恢复的显示 合格

12 耐压测试 绝缘不好，不允许进行耐压试验,所以进行耐压测试之前必须先进行绝缘测试。高压测试电压从0伏升到所需电压，测试端口电压等级高于63V时，耐压测试等级为2500V，击穿电流设置为2mA时保持10秒，测试端口电压等级低于63V时，耐压测试等级为1000V，击穿电流设置为1mA时保持10秒，此时控制器不应有电晕、飞弧、打火、嗞嗞响等现象，测试完毕后控制器不损坏。 绝缘耐压测试仪 合格

13 绝缘测试 将设备设置为测量绝缘电阻，分别测量所有输入对所有输出、所有输入之间、所有端子对外壳之间的绝缘电阻均大于50兆欧。 绝缘耐压测试仪 合格

14 主板高温 高温70度下通电，输入53VDC满载4小时

继电器全开,其他带实际功率负载 恒温恒湿箱 继电器无误动作,满载时保险丝无熔断,通讯误码小于0.5%,贴膜不脱落变形；

在测试过程中测量PCB、MOS管、电解电容、滤波电感等器件的温度，，检测MOS管是否完好，功率器件的温升小于元器件的标称值 合格 通讯时长：4个半小时

通讯成功数：29800

通讯不成功数：0

输出直流电压为53.3V

PCB温度为66度

MOS管温度为70度

电容温度为74度

电感温度为69.6度

IC温度为68度

继电器温度为68度

15 低温 低温-40度下通电空载8小时 恒温恒湿箱 显示正常,通讯通讯误码小于0.5% 合格 通讯时长：8时28分

通讯成功数：58157

通讯不成功数：0

16 湿热试验 将恒温箱温度设为40℃，湿度为95%，温度和湿度稳定后，将控制器放入恒温箱内，等控制器的温度与恒温箱一致时，再上电，调节负载使输入功率为额定功率,连续运行4小时 恒温恒湿箱 试验过程中无异常，试验后控制器无损坏。 合格

17 高低温循环 高温55℃，低温-30℃，保温时间2小时，转换速率1℃/min，2循环，样品通电 恒温恒湿箱 合格 通讯时长：4小时

通讯成功数：29800

通讯不成功数：0

输出直流电压为53.3V

PCB温度为55.8度

MOS管温度为69度

电容温度为67.4度

电感温度为62.6度

IC温度为56.6度

18 高直流电压测试 输入60VDC,空载，持续10分钟 直流调压器 0~60V可输出最大值9.9V~60.6V;

在测试过程中测量PCB、MOS管、电解电容、滤波电感等器件的温度，，检测MOS管是否完好，功率器件的温升小于元器件的标称值。

无