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NXP 系列：LPC1100 系列 (基于 ARM Cortex-M0)_10.调试与测试方法.docx

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    10.调试与测试方法

    10.1引言

    在嵌入式系统开发中，调试与测试是确保系统稳定性和可靠性的关键步骤。LPC1100系列单片机基于ARMCortex-M0核心，提供了多种调试和测试工具，以帮助开发者识别和解决问题。本节将详细介绍LPC1100系列的调试与测试方法，包括硬件调试接口、软件调试工具、单元测试和系统测试等方面。

    10.2硬件调试接口

    LPC1100系列单片机支持多种硬件调试接口，包括JTAG和SWD（SerialWireDebug）。这些接口允许开发者通过调试工具连接到单片机，进行断点设置、单步执行、内存查看和修改

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