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半导体低维结构及材料的偏振光学性质研究.pdf

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    摘要

    偏振光学作为一种特殊的光学表征手段，除了具有非接触、灵敏度高等优点，

    还能够用来研究材料的物理形态、表面特性和界面行为，进而深入理解其对称性

    破缺和自旋输运性质。其中，线偏振光通常用来表征材料由于对称性降低导致的

    光学各项异性。本论文基于偏振光电流探测手段研究了Ⅲ-Ⅴ族半导体低维结构和

    层状外尔半金属中的偏振光电流效应，进而获取其界面和对称性信息。本论文将

    偏振光学与微纳加工技术相结合，通过研究材料或器件的偏振光学响应以及输运

    调控，建立各向异性输运及边界输运物理模型，为以半导体低维材料为基

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