基于四探针扫描隧道显微镜:石墨烯与二硫化钼输运性质的深度剖析.docx

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基于四探针扫描隧道显微镜:石墨烯与二硫化钼输运性质的深度剖析

一、引言

1.1研究背景与意义

在材料科学的广袤领域中,二维材料凭借其独特的原子结构和优异的物理性质,成为了研究的焦点。其中,石墨烯和二硫化钼作为典型的二维材料,以其独特的电学、力学、光学等性质,在众多领域展现出了巨大的应用潜力,吸引了科研人员的广泛关注。

石墨烯,自2004年被成功剥离以来,因其仅由一层碳原子组成的蜂窝状晶格结构,而呈现出诸多优异的性能。它具有高达105cm2V?1s?1量级的载流子迁移率,这意味着电子在石墨烯中能够快速移动,使得石墨烯在高速电子器件应用中极具潜力;其热导率可达3000Wm?1K?

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