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《光纤端面检测仪校准规范》编制说明

1任务来源

国家市场监督管理总局办公厅文件《市场监管总局办公厅关于印发2021年国家计量技术规范项目制定、修订及宣贯计划的通知》（市监计量发[2021]50号），由广州计量检测技术研究院、中国计量科学研究院主要承担《光纤端面检测仪校准规范》的制定工作。

2规范制定的必要性

光纤的纤芯材质是高纯度二氧化硅，具有优秀的光学性能，能够实现光信号的高速传输，同时还能保证信号的传输稳定性和抗干扰性，因此在现代通信领域得到了广泛应用。

光纤包层是在纤芯外部包覆的一层材料，通常采用低折射率的材料，如氟化物。采用低折射率材料作为包层，可以有效地增加光纤的全反射角，从而保证光信号的长距离传输。同时，低折射率材料的使用还能有效地降低光纤中的色散效应，提高光信号的传输质量。

由于材质间存在硬度差异，光纤连接器在进行表面研磨时容易产生各种外观缺陷，如因过渡研磨或研磨量不足导致的纤芯端面凹陷、边缘缺口等，此时需要通过光纤端面检测仪适时检查研磨效果。

随着当下光网络进程的加快，光纤网络的施工操作开始变得规范严格化，尤其是光纤端面检测愈发地标准化。据数据统计，95%测试不合格的光纤，都与光纤端面不清洁有关，而其原因皆是在与设备连接时没有进行光纤端面检测操作。如若光纤端面没有使用合适的光纤端面检测工具，很难让数据中心或网络快速运转，同时还会大大缩短光模块的使用寿命，同时也对整个光网络系统造成严重影响。因此，光网络操作必须要按照光纤端面检测标准来进行操作。

在日常的光纤网络施工中，由于不规范的操作或其它原因，光纤端面很容易就被污染；而当光纤端面附着大量的灰尘、油污等脏污时，倘若端面不进行检测并清洁的话，污损的端面将会是导致光纤布线故障的头号“杀手”，对于高速光传送和波分复用，光纤会发热，并有可能熔化。而光纤连接头之间微小的灰尘、油污等，会导致光通信信号损失，形成逆向反射，导致激光器损坏，造成光网络故障；同时，存在大量脏污的光纤接头还会污染其它光纤接头，致使光信号衰减损耗增大，从而影响光网络信号传输质量。

根据IEC61300-3-35:2022《光纤互连设备和无源元件基本测试和测量程序第3-35部分：检查和测量光纤连接器和光纤短截线收发器的目视检查》中附件A对多模和单模连接器表面缺陷提出了以下要求：

表A.1—多模PC、APC连接器外观要求

区域

缺陷直径D

划痕宽度W

纤芯区φ65μm

＜2μm：无限制

2μm≤D≤5μm：不超过4个

＞5μm：不允许

＜3μm：无限制

3μm≤W≤4μm：不超过4个

＞4μm：不允许

包层区φ65μm～φ110μm

≤25μm：无限制

＞25μm：不允许

不限制

注：对于多芯光纤连接器，所有纤芯均应满足上述要求。

表A.2—RL≥26dB单模连接器、光纤短截线收发器的外观要求

区域

缺陷直径D

划痕宽度W

纤芯区φ25μm

＜2μm：无限制

2μm≤D≤3μm：不超过1个

＞3μm：不允许

＜3μm：无限制

3μm≤W≤4μm：不超过2个

＞4μm：不允许

包层区φ25μm～φ110μm

≤25μm：无限制

＞25μm：不允许

不限制

表A.3—RL≥35dB单模连接器的外观要求

区域

缺陷直径D

划痕宽度W

纤芯区φ25μm

＜2μm：无限制

2μm≤D≤3μm：不超过1个

＞3μm：不允许

＜3μm：无限制

3μm≤W≤4μm：不超过1个

＞4μm：不允许

包层区φ25μm～φ110μm

≤25μm：无限制

＞25μm：不允许

不限制

表A.4—RL≥45dB单模连接器的外观要求

区域

缺陷直径D

划痕宽度W

纤芯区φ25μm

＜2μm：无限制

2μm≤D≤3μm：不超过1个

＞3μm：不允许

＜3μm：无限制

≥3μm：不允许

包层区φ25μm～φ110μm

≤25μm：无限制

＞25μm：不允许

不限制

表A.5—单模APC连接器的外观要求

区域

缺陷直径D

划痕宽度W

纤芯区φ25μm

＜2μm：无限制

2μm≤D≤3μm：不超过1个

＞3μm：不允许

＜3μm：无限制

3μm≤W≤4μm：不超过4个

＞4μm：不允许

包层区φ25μm～φ110μm

≤25μm：无限制

＞25μm：不允许

不限制

注：对于多芯光纤连接器，所有纤芯均应满足上述要求。

图1为光纤端面自动检测仪图像示例，图为多模PC连接器的端面，黑线圆内为直径65μm的纤芯区域，黑线圆外的深灰色区域为直径（65～110）μm的包层区域。在多模PC连接器的端面有三条宽度4μm划痕，符合表A.1多模PC连接器外观的要求。

图1光纤端面自动检测仪图像示例

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