TCESA-人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法.pdfVIP

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ICS

的相关专利连同支持性文件一并

附上

团体标准

T/CESAXXXX—2019

人工智能芯片面向端侧的深度学习芯片

测试指标与测试方法

AIChipsTestIndexandTestMethodofDeepLearningChipsforTerminalSide

（征求意见稿）

2019--发布2019-XX-实施

中国电子工业标准化技术协会发布

T/XXXXXXXX—XXXX

版权保护文件

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许可可于发布机构获取。

I

T/XXXXXXXX—XXXX

目次

前  言II

人工智能芯片面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法1

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

4缩略语2

5技术要求3

5.1测试框架3

5.2测试对象3

5.3测试网络架构3

5.4测试场景信息3

6测试方法3

6.1测试指标3

6.2测试指标描述4

6.2.1平均前向推理时间4

6.2.2最大吞吐性能4

6.2.3前向处理延迟性能4

6.2.4功耗4

6.2.5能效比4

6.3测试类型4

6.3.1通用测试4

6.3.2专用测试4

6.4指标测试方法4

6.5.1平均前向推理时间4

6.5.2最大吞吐性能5

6.5.3前向处理延迟性能5

6.5.4功耗5

6.5.5能效比5

附录通用端侧深度学习芯片测试参数参照表6

I

T/CESAXXXX-2019

前  言

本标准依据GB/T1.1—2009《标准化工作导则第1部分：标准的结构和编写》给出的规则起草。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。

本标准由全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC28)提出并归口。

本标准起草单位：

本标准主要起草人：

II