材料分析方法知到智慧树期末考试答案题库2024年秋天津大学.docx

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材料分析方法知到智慧树期末考试答案题库2024年秋天津大学

成分和价键分析的基本依据是原子核外电子的跃迁产生的信号

A:对B:错

答案:对

接触式原子力显微镜可以利用原子之间吸引力的变化来记录样品表面的轮廓起伏。

A:对B:错

答案:错

AES一般用于轻元素(Z33)分析,而XPS适用于重元素分析

A:对B:错

答案:对

倒易点阵的任一基矢和实空间重点晶体点阵中的两基矢正交

A:错B:对

答案:对

简单阵胞同时反映空间点阵的周期性和对称性

A:对B:错

答案:错

接触式原子力显微镜中探针与样品的距离小于0.1nm。

A:对B:错

答案:错

接触式原子力显微镜中针尖与样品有轻微的物

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