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ResearchandDesign研究与设计
碲锌镉光子计数探测器的制备及性能
的研究
郑伟,吴召平
(苏州西奇狄材料科技有限公司,江苏215123)
摘要:研究移动加热器法THM生长的碲锌镉室温半导体用于光子计数探测器的可行性。它要求
探测器具有较低的漏电流、较高的光子计数率。在探测器的研制过程中,发现晶体退火能在原有
探测器特性的基础上能进一步提高碲锌镉探测器的性能,使探测器达到漏电流能小于0.1nA,光
子计数率达到1.5Mc/s,可应用于光子计数及能谱CT等应用场合。
关键词:光子计数;探测器;碲锌镉;化合物半导体。
中图分类号:TN407;TL81文章编号:1674-2583(2019)03-0027-03
DOI:10.19339/j.issn.1674-2583.2019.03.007
中文引用格式:郑伟,吴召平.碲锌镉光子计数探测器的制备及性能的研究[J].集成电路应用,
2019,36(03):27-29.
FabricationandPropertiesofCdZnTePhoton
CountingDetector
ZHENGWei,WUZhaoping
(SuzhouXiqidiMaterialTechnologyCo.,Ltd,Jiangsu215123,China.)
Abstract—Inthispaper,thefeasibilityofTHMgrownCdZnTeroomtemperature
semiconductorforphotoncountingdetectorisstudied.Itrequiresthedetectortohavelow
leakagecurrentandhighphotoncountingrate.Duringthedevelopmentofthedetector,itis
foundthattheannealingofcrystalcanfurtherimprovetheperformanceofCdZnTedetector
onthebasisoftheoriginaldetectorcharacteristics,sothattheleakagecurrentenergyofthe
detectorislessthan0.1nAandthephotoncountingratereaches1.5Mc/s.Itcanbeusedin
photoncountingandenergyspectrumCTapplications.
IndexTerms—photoncounting,detector,CdZnTe,compoundsemiconductor.
1引言灵敏度可以比传统探测器高50倍以上,而且结构简
对国内外CdZnTe应用现状和发展趋势的分析表单,所以一直是世界上热门的研究对象。图1给出了
明,新一代化合物半导体碲锌镉(CdZnTe)是x射它们的探测原理图及尺寸对比照片。
[1,2]
线和低能γ射线探测器的首选材料。CdZnTe探从CdZnTe晶体生长技术而言,由于CdZnTe
测器具有比其他固体探测器高的分辨率,CdZnTe探熔体中的Cd分压要比Te分压高1~2个数量级,
测器在环境监测、核医学、工业无损检测、安全检所以采用传统的布里奇曼法熔体生长晶体时,容易
查、空间科学、核武器突防及其他核技术领域有着广产生化学计量比偏离,即产生Cd空位或Te反位
[3-12]
阔的应用前景。结构缺陷等,从而会导致晶体电阻率的下降,无法
CdZnTe探测器能将x射线或γ射线直接转变成满足能谱仪和成像系统等方面的要求,且重复性较
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