简易电路特性测试系统的设计与实现.docx

简易电路特性测试系统的设计与实现.docx

  1. 1、本文档共48页,其中可免费阅读15页,需付费100金币后方可阅读剩余内容。
  2. 2、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。
  3. 3、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
  4. 4、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多

PAGEIV

PAGEIV

题目:简易电路特性测试系统的设计与实现

摘要

本系统以STM32F103单片机为核心控制器,根据基极分压式射极偏置电路的原理,设计了一款简易电路特性测试装置。系统硬件部分包括信号产生、放大、采集三部分。信号产生环节,由单片机控制DDS9959数字频率合成器产生幅值、频率均可改变的正弦波信号,通过一级AD620固定增益放大器对该正弦信号进行放大,并输入至AD637进行高精度均方根检测,采用单片机内置的12位AD模块对信号的有效值进行采集,最后由单片机对采集到的信号特性进行分析计算,判断出放大电路的故

文档评论(0)

***** + 关注
实名认证
内容提供者

乐于分享,有偿帮助。

版权声明书
用户编号:8070007123000004

1亿VIP精品文档

相关文档