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ICS31.080
CCSL40/49
团体标准
T/CASAS046—202X(征求意见稿)
碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管
(SiCMOSFET)动态栅偏试验方法
Dynamicgatestresstestmethodforsiliconcarbidemetal-oxide-
semiconductorfield-effect-transistor(SiCMOSFET)
(征求意见稿)
在提交反馈意见时,请将您知道的相关专利连同支持性文件一并附上。
XXXX-XX-XX发布XXXX-XX-XX实施
第三代半导体产业技术创新战略联盟发布
T/CASAS046—202X(征求意见稿)
目次
前言II
引言III
1范围1
2规范性引用文件1
3术语和定义1
4试验电路2
5试验程序2
试验流程2
样品选择3
初始值测量3
试验条件3
应力波形3
中间测量或终点测量5
6失效判据5
7试验报告5
附录A(资料性)SiCMOSFET动态反偏试验记录表6
参考文献7
I
T/CASAS046—202X(征求意见稿)
前言
本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由第三代半导体产业技术创新战略联盟(CASA)制定发布,版权归CASA所有,未经CASA许可
不得随意复制;其他机构采用本文件的技术内容制定标准需经CASA允许;任何单位或个人引用本文件的
内容需指明本文件的标准号。
本文件主要起草单位:
本文件主要起草人:
II
T/CASAS046—202X(征求意见稿)
引言
碳化硅(SiC)基功率金属-氧化物-半导体场效应晶体管(MOSFET)具有击穿电压高、导通电流大、开
关速度快、功率损耗小、高温稳定性好、驱动简单等优点,被认为是最具前景的功率半导体器件之一,
它具有能够大幅提高现有电力系统的功率密度、效率、高温工作能力以及抗辐射的能力,与此同时还降
低了系统的体积和重量,因此在电力电子、光伏发电、新能源等领域,都具有非常广阔的应用前景。SiC
MOSFET在各类动态过程中会出现各类物理变化的迟滞,从而发生由于内部结构与外电路的不匹配,或内
部各结构之
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