GB_T 43883-2024 微束分析 分析电子显微术 金属中纳米颗粒数密度的测定方法.pdf

ICS71.040.99

CCSN33

微束分析分析电子显微术金属中纳米

颗粒数密度的测定方法

2024-04-25发布

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

目次

前言…………………………Ⅲ

引言……………………IV

1范围……………1

2规范性引用文件……………1

3术语和定义………………1

4符号………………………2

5原理………………………3

6试样…………………5

7仪器设备…………………5

8TEM/STEM的准备………………………6

9试验方法…………………6

10试样厚度的测定………………………12

11数密度的计算…………………………12

12不确定度评定…………………………13

13检测报告………………15

附录A(资料性)用图像分析软件统计颗粒数的方法…………………16

附录B(资料性)铝合金中某析出相颗粒数密度的TEM测定示例…………………17

参考文献……………………24

I

前言

起草。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。

本文件起草单位：中国航发北京航空材料研究院、北京科技大学、牛津仪器科技(上海)有限公司。

本文件主要起草人：娄艳芝、柳得橹、徐宁安。

Ⅲ

GB/T43883—2024

引言

金属材料中弥散分布的纳米尺度第二相颗粒对材料的显微组织与力学性能有重要影响。第二相颗

粒的数密度是许多材料在进行性能评估及生产工艺改进时都不可或缺的重要参数，金属材料中的纳米

级析出相颗粒尤为重要。受分辨率的限制，很多分析手段难以对其进行观测和统计，而透射电子显微

术/扫描透射电子显微术(TEM/STEM)等高分辨率的现代技术是进行纳米颗粒分析的通用技术。规

范材料中纳米颗粒数密度的测定方法对于金属材料的研发以及生产工艺的制定与改进具有极其重要的

意义。

IN

微束分析分析电子显微术金属中纳米

颗粒数密度的测定方法

1范围

本文件描述了应用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜(TEM/STEM)技术测定金属材料中纳

米级第二相颗粒数密度的方法。

本文件适用于测定金属材料中弥散分布、粒径在几纳米至几十纳米范围的第二相颗粒的数密度。

被测颗粒的平均尺寸宜在透射电镜试样厚度的约1/3以下，且试样中的颗粒在透射电镜图像上没有互

相重叠或很少重叠。颗粒尺寸不在这个范围的试样可参照执行，其他晶体材料可参照执行。

本方法不适于测定聚集成团的第二相颗粒的数密度。