（高清版）B-T 41074-2021 微束分析 用于波谱和能谱分析的粉末试样制备方法.pdfVIP

ICS71.040.99

CCSG04

中华人民共和国国家标准

GB/T41074—2021/ISO20720:2018

微束分析用于波谱和能谱分析的

粉末试样制备方法

Microbeamanalysis—Methodofspecimenpreparationforanalysisof

generalpowdersusingWDSandEDS

(ISO20720:2018,IDT)

2021-12-31发布2022-07-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T41074—2021/ISO20720:2018

目次

前言Ⅲ

引言IV

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

4缩略语1

5试样制备方法1

6导电性处理6

附录A(资料性)压强对压片X射线强度影响的实例7

附录B(资料性)颗粒尺寸对压片X射线强度影响的实例8

参考文献9

I

GB/T41074—2021/ISO20720:2018

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规

定起草。

本文件等同采用ISO20720:2018《微束分析用于波谱和能谱分析的粉末试样制备方法》。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。

本文件起草单位：中国地质科学院矿产资源研究所、核工业北京地质研究院、中国科学院地质与地

球物理研究所。

本文件主要起草人：陈振宇、范光、毛骞。

Ⅲ

GB/T41074—2021/ISO20720:2018

引言

虽然电子探针(EPMA)和扫描电镜(SEM)在粉末分析中广泛应用，但也存在一些困难，特别是在

单个颗粒分析的情况下，如：

a)试样制备过程中的颗粒团聚；

b)试样的固定，尤其是当存在少量细小颗粒用于表面分析或截面分析时；

c)具有核-壳结构的小颗粒的横截面制备；

d)在颗粒表面对电子束敏感的情况下，保护颗粒表面不受电子束辐照损伤；

e)在电子辐照下对试样荷电的中和，以防止粉末由于电荷排斥而飞溅或分散；

f)X

当产生射线的体积大于粉末颗粒时，定性、定量分析结果的解释。

在分析粉末元素组成的情况下，试样制备也会影响分析结果，因为颗粒聚集