（高清版）B-T 40675.2-2021 数字器件和设备用噪声抑制片 第2部分：测量方法.pdfVIP

ICS29.100.10

CCSL19

中华人民共和国国家标准

GB/T40675.2—2021/IEC62333-2:2015

数字器件和设备用噪声抑制片

第2部分：测量方法

Noisesuppressionsheetfordigitaldevicesandequipment—

Part2:Measuringmethods

(IEC62333-2:2015,IDT)

2021-11-26发布2022-06-01实施

国家市场监督管理总局

国家标准化管理委员会发布

GB/T40675.2—2021/IEC62333-2:2015

目次

前言V

引言VI

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

4通则1

5测试方法2

5.1同侧去耦比：R2

5.1.1原理2

5.1.2测试装置3

5.1.3测试样品5

5.1.4步骤6

5.1.5测试结果的表述7

5.2异侧去耦比：Rde7

5.2.1原理7

5.2.2测试装置8

5.2.3测试样品9

5.2.4步骤9

5.2.5测试结果的表述9

5.3传输衰减比：Rp9

5.3.1原理9

5.3.2测试装置10

5.3.3测试夹具10

5.3.4测试样品11

5.3.5步骤11

5.3.6测试结果的表述12

5.4辐射抑制比：Rs12

5.4.1原理12

5.4.2测试装置12

5.4.3测试样品15

5.4.4步骤16

5.4.5测试结果的表述17

5.5线路去耦比：R17

I

GB/T40675.2—2021/IEC62333-2:2015

5.5.1通则17

5.5.2原理17

5.5.3测试装置18

5.5.4测试样品20

5.5.5步骤20

5.5.6测试结果的表述21

图1天线对及NSS的测试示意图2

图2天线对及测试状态下的NSS3

图3环形天线对之间耦合的频率响应3

图4推荐的测试用小型环形天线示例4

图5测试布置剖视图5

图6测试布置示意图6

图7环形天线对和测试样品的测试原理图7

图8天线对和测试样品测试示意图8

图9测试装置原理图8

图10传输衰减率R,的测试方法原理图10

图11测试结果数据示例12

图12R。的测试系统图13

图13测试夹具原理图13

图14测试夹具尺寸及结构14

图