X射线荧光光谱修正方法及系统、分析仪、设备、介质.pdfVIP

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2024-04-13 发布于四川
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X射线荧光光谱修正方法及系统、分析仪、设备、介质.pdf

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本发明公开了一种X射线荧光光谱修正方法及系统、分析仪、设备、介质，其先基于相同的激发光能量分别获取出厂时测试空白载体得到的参考谱图和周期修正时测试空白载体得到的待修正谱图，然后对参考谱图和待修正谱图分别进行积分计算后得到第一荧光产额和第二荧光产额，即可基于第一荧光产额和第二荧光产额计算得到修正系数，该修正系数即表征了X射线管的衰减程度，最后基于修正系数对仪器测试过程中各元素的荧光产额进行修正，从而根据X射线管的衰减程度对实际检测结果进行荧光强度修正，保证了仪器长期运行过程中的数据准确性，并且可实

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117871574A

(43)申请公布日2024.04.12

(21)申请号202410142831.6

(22)申请日2024.01.31

(71)申请人深圳市力先达科技有限公司

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