模拟集成电路测试向量排序方法、装置及计算机设备.pdfVIP

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2024-03-23 发布于四川
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模拟集成电路测试向量排序方法、装置及计算机设备.pdf

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本说明书涉及集成电路测试领域，尤其是模拟集成电路测试向量排序方法、装置及计算机设备，所述方法包括根据输入至模拟集成电路的测试向量集，确定测试向量集中各测试向量与目标测试频点的相关度；根据测试向量集中相关度最高的测试向量构建排序向量集合；计算测试向量集中除所述相关度最高的测试向量以外的其他每个测试向量的相对于所述排序向量集合的冗余度；根据每个测试向量的冗余度计算该测试向量相对于所述排序向量集合的贡献度，根据贡献度更新所述排序向量集合，形成优化测试向量集；根据所述优化测试向量集，对模拟集成电路在所述

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117742654A

(43)申请公布日2024.03.22

(21)申请号202311738505.3

(22)申请日2023.12.15

(71)申请人深圳先进技术研究院

地址518