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本发明涉及点目标红外辐射测量技术领域,尤其涉及一种点目标红外辐射测量方法。包括:S1:利用中长波红外成像系统对远距离的点目标进行红外成像,分别获得中波红外图像和长波红外图像;S2:对中波红外图像和长波红外图像进行处理,获得中波红外辐射亮度和长波红外辐射亮度的计算公式;S3:对中波红外辐射亮度和长波红外辐射亮度的计算公式进行比值处理;S4:根据普朗克公式计算点目标的温度和红外辐射亮度。本发明能够在点目标的面积未知的情况下,对点目标的红外辐射亮度和温度进行有效测量,从而提高了红外辐射测量技术在靶场的
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117723157A
(43)申请公布日2024.03.19
(21)申请号202410171445.X
(22)申请日2024.02.07
(71)申请人中国科学院长春光学精密机械与物
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