一种应用于ICT的开路或短路测试方法、系统及平台.pdfVIP

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2024-03-16 发布于四川
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一种应用于ICT的开路或短路测试方法、系统及平台.pdf

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本发明公开了一种应用于ICT的开路或短路测试方法、系统及平台，通过获取第一测试点数据，同时并联处理第一集合点数据；判定所述第一测试点数据与所述第一集合点数据之间开路或短路关系，并生成与待测试开短路测试点相对应的第二集合点数据；获取第二测试点数据，并二等分处理除所述第二测试点数据外的第二集合点数据；判定所述第二测试点数据与所述第二集合点数据之间开路或短路关系，并生成与待测试开短路测试点相对应的第三集合点数据；以及相应的系统平台，可提高ICT开路或短路测试效率。即通过粗筛将不可能与其他测试点有短路情

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117706334A

(43)申请公布日2024.03.15

(21)申请号202311748332.3

(22)申请日2023.12.19

(71)申请人深圳市微特精密科技股份有限公司

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