一种封装IC表面缺陷视觉检测方法.pdfVIP

下载本文档

1
0
约1.75万字
约 16页
2024-01-24 发布于四川
举报
版权申诉

一种封装IC表面缺陷视觉检测方法.pdf

1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

本发明涉及图像处理技术领域，具体涉及一种封装IC表面缺陷视觉检测方法，包括：获取封装IC灰度图像，得到封装IC灰度图像的梯度直方图和封装IC灰度图像的灰度直方图，根据灰度直方图得到连续的灰度级区间中所有灰度级的导数，得到第一影响因素和得到第二影响因素，根据第一影响因素和第二影响因素得到灰度级均衡化后的对应的灰度级，对增强封装IC灰度图像进行缺陷检测。本发明通过对图像进行自适应增强，并对图像进行后续快速分割检测，相较于现有的快速分割检测方法，降低了引脚缺损缺陷与引脚向上弯曲的误检率，提升缺陷检测效

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117437238A

(43)申请公布日2024.01.23

(21)申请号202311773843.0G06T7/11(2017.01)

(22)申请日2023.12.2