- 1、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。。
- 2、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
- 3、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
提供一种能够提高描绘精度的多带电粒子束的评价方法、多带电粒子束描绘方法、检查方法及记录介质。该多带电粒子束的评价方法为,对通过设置于孔径阵列基板的多个开口部后的多带电粒子束中的多个单独射束的轨道进行评价,其中,将上述多带电粒子束的成像面的光轴方向的高度、或者形成有射束位置测定用的标记的测定面的光轴方向的高度设为互不相同的多个高度,分别测定上述多个单独射束的位置,基于在上述多个高度分别测定的上述多个单独射束各自的射束位置的差分即位置差分,提取上述多个单独射束中在射束轨道产生了变化的异常射束。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117215154A
(43)申请公布日2023.12.12
(21)申请号202310667903.4
(22)申请日2023.06.07
(30)优先权数据
2022-094497202
文档评论(0)