缺陷检测方法、电子设备以及存储介质.pdfVIP

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2023-11-08 发布于四川
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缺陷检测方法、电子设备以及存储介质.pdf

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本发明公开了缺陷检测方法、电子设备以及存储介质，其中，缺陷检测方法包括：获取到待检测对象的待检测图像；对待检测图像进行特征提取，得到待检测图像的特征图；其中，特征图包括多个像素点的特征向量；通过单类检测器确定特征图的各像素点的特征向量与单类检测器对应的超球体之间的包含关系，以确定待检测对象上是否存在缺陷；其中，超球体是在单类检测器的训练过程中得到的。通过上述方式，本发明能够提高缺陷检测方法的通用性和鲁棒性。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117011227 A (43)申请公布日 2023.11.07 (21)申请号 202310678762.6 G06V 10/82 (2022.01)