一种基于深度学习和AFM图像的纳米颗粒自动检测方法.pdfVIP

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2023-10-04 发布于四川
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一种基于深度学习和AFM图像的纳米颗粒自动检测方法.pdf

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本发明公开了一种基于深度学习和AFM图像的纳米颗粒自动检测方法。方法包括：采集纳米颗粒AFM原图像处理获得归一化高度图；建立深度学习模型并训练模型；采集待检测的纳米颗粒的AFM检测原图像并处理；将检测归一化高度图输入训练完成的模型中，输出纳米颗粒的区域、团聚信息和置信度信息显示在检测可视化高度图中；根据检测原图像和检测高度图获得纳米颗粒的像素‑尺寸因子、尺寸信息、尺寸分布信息和团聚比例，最终实现纳米颗粒的自动检测。本发明能够自动地分割AFM图像中的纳米颗粒，并进一步分析纳米颗粒信息，解决了目前基

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116843632 A (43)申请公布日 2023.10.03 (21)申请号 202310733670.3 (22)申请日 2023.06.20 (71)申请人浙江大学地址 310058