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本发明公开了一种红外发射芯片的性能综合测试方法及系统，涉及红外发射芯片测试技术领域，包括：将待测试的红外发射芯片的引脚接入性能测试机电路中，调试性能测试机进入测试环境；性能测试机对红外发射芯片的灵敏度进行检测；性能测试机对红外发射芯片的功耗能量进行检测；性能测试机对红外发射芯片的响应时间进行检测；性能测试机对红外发射芯片的抗干扰性进行检测；结合红外发射芯片性能评定标准，对红外发射芯片的性能进行评级。通过设置灵敏度检测模块、功耗能量检测模块、响应时间检测模块和抗干扰性检测模块，从多维度对红外发射芯
(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116846488 A (43)申请公布日 2023.10.03 (21)申请号 202311091819.9 (22)申请日 2023.08.29 (71)申请人 深圳市美矽微半导体有限公司 地址
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