芯片寄存器的测试方法、装置、电子设备及存储介质.pdfVIP

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2023-10-04 发布于四川
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芯片寄存器的测试方法、装置、电子设备及存储介质.pdf

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本申请提供了一种芯片寄存器的测试方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待测试寄存器的位数和起始地址，及待测试数值；根据待测试寄存器的位数、待测试数值的位数，计算待测试寄存器的测试数量；根据待测试寄存器的位数、待测试数值的位数和待测试寄存器的测试数量，对待测试数值进行补零操作，得到初始待测试数值；将初始待测试数值拆分成至少一个与待测试寄存器的位数相同的目标待测试数值；通过目标待测试数值，对从起始地址开始的、与测试数量相同数量的待测试寄存器进行测试。通过本申请的方法，能够同时对多个芯片寄存

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116841811 A (43)申请公布日 2023.10.03 (21)申请号 202310786563.7 (22)申请日 2023.06.29 (71)申请人上海孤波科技有限公司地址 20