GB/T 43226-2023宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法.pdf

ICS49.140 CCSV25 中华人 民共和 国国家标准 / — GBT43226 2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误 时域测试方法 Time-domaintestmethodsforsacesinleeventsofterrorsof p g semiconductorinteratedcircuit g 2023-09-07发布 2024-01-01实施 国家市场监督管理总局 发 布 国家标准化管理委员会 / — GBT43226 2023 前 言 / — 《 : 》 本文件按照 标准化工作导则 第 部分 标准化文件的结构和起草规则 的规定 GBT1.1 2020 1 起草。 。 。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利 本文件的发布机构不承担识别专利的责任 本文件由全国宇航技术及其应用标准化技术委员会( / )提出并归口。 SACTC425 : 、 。 本文件起草单位 北京微电子技术研究所 中国航天电子技术研究院 : 、 、 、 、 、 、 、 、 、 。 本文件主要起草人 赵元富 陈雷 王亮 岳素格 郑宏超 李哲 林建京 李永峰 陈淼 王汉宁 Ⅰ / — GBT43226 2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误 时域测试方法 1 范围 、 、 、 本文件规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理 环境条件 仪器设备 试验样 、 、 。 品 试验步骤 试验报告 本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的