存储器失效测试方法及装置、存储介质及电子设备.pdfVIP

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2023-09-20 发布于四川
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存储器失效测试方法及装置、存储介质及电子设备.pdf

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本公开涉及一种存储器失效测试方法、存储器失效测试装置、计算机可读存储介质及电子设备。该存储器失效测试方法，包括：在存储器的存储阵列中写入预设存储数据；升高位线电压，控制存储阵列的部分字线进入测试模式；等待预设时间后退出测试模式；关闭预设部分位线的灵敏放大器，读取剩余部分位线的数据；将读取的剩余部分位线的数据与预设存储数据进行比较，获得比较结果；根据比较结果对存储器的失效状态进行判定。本公开可以提高存储器失效状态的测试效率和测试准确性。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116779014 A (43)申请公布日 2023.09.19 (21)申请号 202210225517.5 (22)申请日 2022.03.09 (71)申请人长鑫存储技术有限公司地址 23