一种芯片级的霍尔器件测试分选装置.pdfVIP

下载本文档

3
0
约8.73千字
约 9页
2023-08-28 发布于四川
举报
版权申诉

一种芯片级的霍尔器件测试分选装置.pdf

1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

本实用新型涉及霍尔器件性能测试设备技术领域，具体涉及一种芯片级的霍尔器件测试分选装置，旨在解决现有技术中霍尔器件的测试分选需要在芯片封装成器件之后完成，存在测试成本大、测试周期长的问题，其技术要点在于包括探针台，用于连接霍尔器件的四个引脚，并对输出不合格的霍尔器件进行标定；电磁铁，设置于所述自动探针台上，用于给所述霍尔器件提供恒定磁场；电流源，与所述霍尔器件的两个引脚连接，作为输入端；万用表，与所述霍尔器件的另外两个引脚连接，作为输出端以测试霍尔电压。本实用新型有效减小了封装成本，缩短了测试周期

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 210230705 U (45)授权公告日 2020.04.03 (21)申请号 20192