SJT 10062-19912K4型硅微带PIN开关二极管.pdf

SJ中华人民共和国电子工业行业标准SJ/T 10062-91电子元器件详细规范PIN40A、PIN40B 和 PIN40C 型硅微带PIN开关二极管PIN62A、PIN62B、PIN62C 和PIN62D型硅PIN开关二极管1991-07-01实施1991-04-08发布中华人民共和国机械电子工业部发布 中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范PIN40A、PIN40B 和 PIN40C型SJ/T 10062-91硅微带PIN开关二极管Detail specification for electronic componentsMicrostric silicon switching PIN diodesfor types PIN40A,PIN40B and PIN40C本标准适用于PIN40型硅微带PIN开关二极管，它是按照GB12562《PIN二极管空白详细规范》标准制订的，符合GB4589.1《半导体器件分立器件和集成电路总规范》和GB12560《半导体器件分立器件分规范》的I类要求。中华人民共和国机械电子工业部1991-04-08批准1991-07-01实施1 SJ/T 10062-91中华人民共和国机械电子工业部评定器件质量的根据：GB4589.1《半导体器件分立器件和集SJ/T10062-91成电路总规范》和GB12560《半导体器件分立器件分规范》PIN40A、PIN4OB和PIN40C型硅微带PIN开关二极管详细规范订货资料，见本规范第7章。2简略说明1机械说明PIN二极管外形图半导体材料：硅封装：微带-环氧（非空腔）应用：天线开关、移相、电调衰减、调制等。90 °02.22min质量评定类别I类514参考数据：V(HR)≥300VClol ≤0. 8pF(PIN 40A)≤0. 6pF(PIN 40B)≤0. 4pF(PIN 40C)r≤1.00尺寸单位：mm SJ/T 10062--914极限值（绝对最大额定值）除非另有规定，这些极限值在整个工作温度范围内适用。值数单位符号条文号参数名称最小值最大值c1504.1工作环境温度Tanb-55c1504. 2贮存温度Tsig- 55VV(cx)3004. 3击穿电压4.5.耗散功率c4. 5. 2T(v)150最高有效(等效的)结温mwP200耗散功率5电特性（对检验要求见本规范的第8章）数值特性和条件试验单位条文号（见总规范的第4章）符号组别最小值最大值Tamb=25℃A2b5.1反向电流Iki1. 0μAVx= 200VC2bI k210μA5. 2反向电流Vx=- 200V,Tamb=100℃VrVA2b5. 3 正向电压1.0lp=100mAA2b5. 4总电容CtotVx=100V,f-1MHzpF0.8PIN40ApF0. 6PIN 40BpFPIN 40C0. 4A35. 51. 0反向恢复时间trrusIr= 20mA,Ix= 200mA0A2b5. 7正向微分电阻1.0rIr=100mA,f10kHzLs0. 2nH5.8申联电感1pF封装电容1(Cp0. 15.105. 11热阻0.625C/mwRcb)-注：1）典型值，不作检验用。6标志6.1每个器件均放在有参数卡的小包装袋内，参数卡上应有下列资料：6.1.1完整的器件型号。6.1.2与外形图相对应的极性识别符号(一-)。6.1.3质量评定类别标记（应放在型号后面，如PIN40AI）。6.1.4检验批识别代码。3 SJ/T 10062—916.2包装箱上的标志6.2.1重复参数卡上的器件型号、类别标记和检验批代号。6.2.2标上“怕湿”等字样。6.2.3制造厂商标。7订货资料订货单上应有下列内容：7.1 准确的型号。7.2订货数量。7.3本规范编号。7.4对器件的其它要求。8试验条件和检验要求8.1在本章中，除非另有规定，引用的条文号对应于GB4589.1的条文号；测试方法引自GB6570《微波二极管测试方法》。8.2器件构成A组、B组检验批的时间可以为一个月。试验条件和检验要求见下表。A组逐批全部试验都是非破坏性的（3.6.6）检验要求条件检验或试验引用标准值Tamb=25℃数单位（见总规范的第4章）LTPD最小值最大值A1分组5外部检验4.2.1.10.7A2a分组不工作器件极性颠倒；I niVk = 200VIR≥100GB 6570,6.2μA或VrGB 6570,6.3.1Ir= 100mAVr≥10VA2b分组3I 1GB 6570,6.2Vk=200V1.0μACtotGB 6570,8.2Vx=100V f-1MHz0. 8pFPIN40A0.6pFPIN40BPIN40C0. 4pFVrvGB 6570,6.3.11p =100mA1. 03GB 6570,8.3I