一种齿轮齿廓粗糙度测量方法、系统、设备及介质.pdfVIP

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2023-08-02 发布于四川
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一种齿轮齿廓粗糙度测量方法、系统、设备及介质.pdf

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本发明公开一种齿轮齿廓粗糙度测量方法、系统、设备及介质，涉及齿轮精密测量技术领域；所述方法包括：获取目标齿轮副的设计参数和各个齿廓工作点的试验参数；对测量表面轮廓和理论齿廓曲线进行拟合，得到表面结构曲线；对于理论齿廓曲线上的各个齿廓工作点，根据设计参数和试验参数，计算赫兹接触宽度，并根据赫兹接触宽度确定表面粗糙度的评定长度；采用设定波长的滤波器对表面结构曲线进行滤波，得到表面粗糙度轮廓；对任一评定长度，根据表面粗糙度轮廓确定工作区域内各个齿廓工作点的表面粗糙度参数；本发明通过拟合以及依据齿廓工作

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116518907 A (43)申请公布日 2023.08.01 (21)申请号 202310492007.9 (22)申请日 2023.05.05 (71)申请人北京工业大学地址 100124