GA_T 1091-2019基于13.56MHz的电子证件芯片环境适应性评测规范.pdf

ICS _35.020A 90GA中华人民共和国公共安全行业标准GA/T 1091—2019代替 GA 1091—2013基于13.56MHz的电子证件芯片环境适应性评测规范Specifications for evaluation of environmental adaptability ofintegrated circuits on 13.56 MHz in electronic certificates2019-06-15发布2019-06-15实施中华人民共和国公安部发布 GA/T 1091—2019目次前言范围规范性引用文件术语和定义符号和缩略语一般要求试验项目6.1交变磁场6.2静电放电敏感度6.3变化场强6.4变化颖率6.5变化调制深度6.6组合状态副载波调制信号幅度6.7稳定性烘焙6.8低温存忙6.9温度循环6.10高压蒸煮6.11动态弯曲6.126.13振动玻劳106.14106.15模塑料与棍架粘合强度106.16点压力6.17制卡工艺匹配性评测规则127,1评测分类7.2抽样规则..7.3判定规则.评测报告14 GA/T 1091—20196.7.4失效判据样品读写功能异常视为失效。6.8低温存贮6.8.1目的确定低温贮存对样品读写功能的影响，6.8.2试验要求试验要求为：a)温度：-40C;b)时间：试验样品温度达到稳定后，再保持24h。6.8.3试验方法按照GJB150.4A一2009中7.2.1的要求执行后对样品进行读写功能测试。6.8.4失效判据样品读写功能异常视为失效。6.9温度蕾环6.9.1目的确定极端高温和极端低温以及极端高温与极端低温交替变化对样品读写功能的影响。6.9.2试验要求试验要求为：a)循环次数：10次；高低温转换时间，不超过30s;c)停留时间：30min;d)温度：高温125℃，低温一55C，6.9.3试验方法按照GJB548B—2005中方法1010.1中第3章的要求执行后对样品进行读写功能测试。6.9.4失效判据样品读写功能异需视为失效，6.10高压蒸煮6.10.1目的确定在一定湿度的高压高温条件下对样品读写功能的影响。6.10.2试验要求试验要求为： GA/T 1091—2019a)压力170kPa;b)温度：(120±2)Cc)相对湿度：(85±5)%，d)持续时间：48h，6.10.3试验方法将样品放置在高压蒸煮试验箱的筛板上，试验箱工作区的燕汽压强、温度和温度如6.10.2所述，试验后将样品取出操干，在常温下放置2h后对样品进行读写功能测试。6.10.4失效判据样品读写功能异常视为失效，6.11动态弯典6.11.1目的确定弯曲应力对样品读写功能造成的影响，6.11.2试验要求试验要求为：a)将样品封装成样品卡；b)H.=20 mm,H.10 mm;c)总弯曲次数：4000次。6.11,3试验方法按照GB/T17554.1—2006中5.8的要求执行后对样品卡进行读写功能测试，6.11,4失效判据样品卡读写功能异常视为样品失效。6.12动态扭曲6.12.1目的确定扭曲应力对样品读写功能造成的影响。6.12.2试验要求试验要求为：a)将样品封装成样品卡；b)扭转角度。=(15±1)；(3测试额率为0.5Hz；d)总扭转次数：4000次，6.12.3试验方法按照GB/T17554.1—2006中5.9的要求执行后对样品卡进行读写功能测试。 GA/T 1091—20196.12.4失效判据样品卡读写功能异常视为样品失效。6.13振动疲劳6.13.1目的测定在规定额率范围内振动对样品外观及读写功能的影响。6,13.2试验要求试验要求为：a)振动频率：(60±20)Hz;b)峰值加速度：196m/s*(20g）；c)款动时闻：在Z方间上摄动10mind)样品外观目检放大借数：10倍～20倍。6.13.3试验方法按照GJB548B—2005中方法2005中第3章的要求执行后对样品进行目检和读写功能测试。6.13.4失效判据样品外观开裘或读写功能异常视为失效，6.14冲击6.14.1目的确定样品在规定冲击条件下的耐受能力，6.14.2试验要求试验要求为：a)将样品封装成样品卡；b)加速度：5000m/s（500g）；c)脉冲持续时间：1ms:脉冲波形，率正弦；d)冲击施加方向：应对卡体的三个互相垂直方向的每一方向连续施加三次冲击，即共18次，6.14.3试验方法按照GB/T2423.5—1995中第8章执行后对样品卡进行读写功能测试。6.14.4失效判据样品卡读写功能异常视为样品失效。6.15模塑料与框架粘合强度6.15.1目的确定样品模塑料与框架之间粘合强度对其外观和读写功能的影响。10 GA/T 1091—20196.15.2试验要求试验要求为：a)作用力：20