NB_T 20003.3-2010核电厂核岛机械设备无损检测 第3部分：射线检测.pdf

ICS 19. 100: 77. 040. 20H 26备案号：29072-2010B中华人民共和国能源行业标准NB/T20003.3—2010代替 EJ/T 1039—1996核电厂核岛机械设备无损检测第3部分：射线检测Non-destructive testing for mechanical componentsin nuclear island of nuclear power plants-Part 3: Radiographic testing2010-05-01发布2010-10-01实施国家能源局发布 NB/T 20003. 3—2010目次前言III范用2规范性引用文件术语和定义一般要求4. 1检测人员4. 2检测文件4. 3参考底片4. 4检测范围，4. 5辐射防护5设备和器材5. 1射线源5. 2胶片系统，5. 3黑度计和标准黑度片5. 4观片灯6检测条件6. 1表面准备，6. 2射线能量的选择6. 3几何不清晰度6. 4透照厚度比检测技术7. 1透照布置7. 2像质计7. 3赔盒组成7. 4滤光板7. 5遮挡板和散射线的防护7. 6标记胶片的暗室处理评片要求10射线底片的质量10. 1底片标记，10. 2底片伪缺陷10. 3底片黑度，10. 4底片图像质量 NB/T 20003. 320107.2像质计7.2.1像质计的选用底片像质应使用JB/T7902规定的线型像质计米确定。应按照10.4规定的底片图像质量要求选择像质计。所用像质计的材质应与被检工件相同或相似，或其射线吸收系数小于被检材料。规定显示的钢丝不应是所用像质计的最小线径。7.2.2像质计的放置单壁透照时，像质计应优先放置在射线源侧，并紧贴工件表面，且位于厚度均勾的区域：若射线源侧无法放置像质计时，可放置在胶片侧，并应在像质计处放置一铅制字母“F”，在这种情况下，应作一次对比试验，方法是在射线源侧和胶片侧各放置一个像质计，采用相同的遵照条件，观察所得像质计灵缴度的差异，保证实际透照的底片图像质量符合要求。采用双壁双影透照方式时，像质计应放置在射线源侧：采用双单影透照方式时，像质计可放置在胶片侧，7.2.3像质计的数量般情况，每张底片上至少应有一个像质计。在采用双片或多片透照，以扩大一次透照厚度范围时，应在被检工件不同厚度处放置相应规格的像质计。以中心透照方式检测环向焊接接头或圆筒形铸件时，至少应每隔120°放置一个像质计。7.3暗盒组成7.3.1胶片胶片的组合技术分为：单层胶片法：使用单张胶片；双层胶片法：将两张特性指标相网的胶片装在网一个暗盒内：多层胶片法：将两张特性指标不同的胶片装在同一个暗盒内，或在同一个暗盒内装有两张以上特性指标相同或不同的胶片，7.3.2增感屏射线检测时应按要求使用金属增感屏或不用增感屏。采用单层胶片法时，增感屏材质和厚度应符合表5的规定。采用双层或多层胶片法时，增感屏的前屏和后屏选用应符合表5的规定。中屏的材质和厚度应符合表6的规定。若通过比较试验予以证实能达到所要求的图像质量，也可选用其他金属材质和厚度的增感屏。表5单层胶片法增感屏的选用前屏后屏射线源材质厚度材质nnx射线(100 kV)不用或≤0.05不用或≤0.05X射线 (≥100kV~500 kV)铅0, 05~0. 15销0. 05 ~0. 20Se75, Ir1920. 20~0, 250. 20~0. 25Co600. 20~0, 25铅0. 20~0, 25不锈制0. 25不锈钢0. 25高能X射线销，不锈钢1. 0~1. 6铅，不锈钢1. 0~1. 6 NB/T 20003. 3—2010表6双层或多层胶片法中屏的选用中屏射线源材质厚度mx射线 (≥100kV~500kV)铅不用或0.05Se75, Ir192, Co60铅0. 10高能X射线销，不锈例0, 10注：中屏应采用双面枯贴同厚度和风材质的会属落，表中所列为单面会属估的厚度。7. 4滤光板7. 4. 1一般要求滤光板应由铅板制成，可装在被检工件和暗盒之间，也可装在暗盒内靠近射线源一侧。滤光板的厚度应为0.5m、1mm、1.5m和12m。不在0.5m、1m和1.5am厚的滤光板一角上应钻一个直径为3m的孔，在2mm厚的滤光板一角上应钻两个直径为3m的孔。为便于在评片发生疑间时查证原因，宜对滤光板编号。7. 4. 2滤光板的选用射线源为X射线或高能X射线时，不必使用滤光板。除非另有规定，使用射线时。应按表7的规定选用铅制滤光板。表7滤光板的选用单位为毫米透照厚度滤光板厚度（销）7400. 540≤TE6060≤≤801.5或2（用于碳例或低合金钢工件）2（用于不锈钢工件）78027. 5遮挡板和散射线的防护7. 5. 1一般要求遮挡板应由一层和多层铅板组成，它可紧贴于暗盒后部，世可