一种集成电路测试底座.pdfVIP

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2023-07-20 发布于四川
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一种集成电路测试底座.pdf

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本实用新型公开了一种集成电路测试底座，包括：一侧边相互铰接的测试底座和压板，测试底座开设有测试槽，压板可将测试槽盖合。测试槽内设有弹性测试探针，测试底座内设有与弹性测试探针电性连接的测试电路板。压板朝向测试槽的一侧设有可活动的压盖，压板上设有驱动压盖朝测试槽内移动的驱动件，且压盖朝向测试槽的表面设有绝缘橡胶层。本实用新型有益效果：结构简单实用，制造成本和后期维护成本都比较低。另外，通过驱动件调整压盖的高度，还可以适用对不同厚度的集成电路在测试时压紧，适用范围更广。

(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 219369831 U (45)授权公告日 2023.07.18 (21)申请号 202320445008.3 (22)申请日 2023.02.28 (73)专利权人深圳市英赛尔电子有限公司地址