OLED屏幕点缺陷判定方法、装置、存储介质及电子设备.pdfVIP

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2023-07-04 发布于四川
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OLED屏幕点缺陷判定方法、装置、存储介质及电子设备.pdf

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本申请提出一种OLED屏幕点缺陷判定方法、装置、存储介质及电子设备，该方法包括获取OLED屏幕的图像；将图像转换为YUV图像，并提取YUV图像对应的Y图像；根据Y图像的图像特征，识别OLED屏幕点的缺陷位置的轮廓尺寸，并将轮廓尺寸作为轮廓特征；根据轮廓特征对OLED屏幕点进行缺陷判定。通过本申请能够提升OLED屏幕的缺陷点检测效率，提升检测速度，提升缺陷点检测效果。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113785181 A (43)申请公布日 2021.12.10 (21)申请号 202080000368.1 (51)Int.Cl.