芯片、芯片总线的检测系统、检测方法及存储介质.pdfVIP

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2023-07-04 发布于四川
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芯片、芯片总线的检测系统、检测方法及存储介质.pdf

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本发明提出一种芯片、芯片总线的检测系统、检测方法及存储介质，所述系统包括：调试接口、调试总线、至少一个总线检测单元和控制器，其中，每个总线检测单元的第一端与每个总线单元相连，每个总线检测单元的第二端与每个总线单元对应的总线节点相连，每个总线检测单元的第三端通过调试总线与调试接口的第一端相连，调试接口的第二端与控制器相连；控制器用于在芯片总线出现异常的情况下，通过调试接口和调试总线，访问每个总线检测单元，以获取每个总线检测单元的信息，并根据每个总线检测单元的信息，定位芯片总线出现异常的地址。由此，

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113778734 A (43)申请公布日 2021.12.10 (21)申请号 202111028333.1 (22)申请日 2021.09.02 (71)申请人上海砹芯科技有限公司