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本发明公开了一种测试熔体表面张力的方法,包括:将样品加热为熔体,并使得所述熔体形成熔滴;获取所述熔滴的图像;以及对所述图像进行处理,计算熔体的表面张力;其中所述加热包括:将样品在第一温度加热第一预定时间,然后将加热温度从所述第一温度降至第二温度,并在所述第二温度保温第二预定时间。本发明能够提高熔体表面张力测试的准确性。
(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113776992 A (43)申请公布日 2021.12.10 (21)申请号 202110992292.1 (22)申请日 2021.08.27 (71)申请人 河北光兴半导体技术有限公司
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