环境控制设备及芯片测试系统.pdfVIP

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2023-07-02 发布于四川
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环境控制设备及芯片测试系统.pdf

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本发明公开一种芯片测试系统及环境控制设备。芯片测试系统包含环境控制设备、中央控制装置及芯片测试装置，环境控制设备包含设备本体及抵压装置。当芯片测试装置设置于设备本体的容置室中，且中央控制装置使抵压装置抵压芯片测试装置承载的多个芯片的一侧时，中央控制装置将控制芯片测试装置对多个芯片进行检测作业。当芯片测试装置对芯片完成测试后，中央控制装置将控制抵压装置与芯片测试装置相互分离，此时，抵压装置的多个活动件将突出抵压装置的接触面，并推抵多个芯片，以使多个芯片与接触面分离。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113740701 A (43)申请公布日 2021.12.03 (21)申请号 20201