用于测试芯粒的针卡控制装置、控制系统和控制方法.pdfVIP

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2023-06-28 发布于四川
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用于测试芯粒的针卡控制装置、控制系统和控制方法.pdf

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本发明涉及芯粒测试技术领域，特别涉及一种用于测试芯粒的针卡控制装置、控制系统和控制方法。装置包括：机架、芯粒安装部、针卡安装部、驱动部、绝对式编码器和控制部；其中，控制部的输入端连接绝对式编码器，输出端连接驱动部，控制部用于根据上位机提供的目标位置和运动速度，使驱动部开始驱动针卡安装部运动，并且根据目标位置和运动速度计算接近区间，以当绝对式编码器反馈的针卡安装部的实时位置到达接近区间时，预测针卡安装部的位置，直至预测针卡安装部到达目标位置时，控制驱动部停止驱动。本方案可以提高针卡位置的控制精度，

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116338410 A (43)申请公布日 2023.06.27 (21)申请号 202310602435.2 (22)申请日 2023.05.26 (71)申请人中诚华隆计算机技术有限公司地址