一种基于FPGA的采样数据校正方法及系统.pdfVIP

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2023-06-23 发布于四川
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一种基于FPGA的采样数据校正方法及系统.pdf

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本申请公开了一种基于FPGA的采样数据校正方法及系统，用以解决现有的采样数据校正方法不能保证校正结果的准确性，且每次校正都需要重新确定校正参数的技术问题。方法包括：接收采样数据并进行预处理；对预处理后的采样数据进行ADC采样，以得到能够被FPGA芯片识别的差分待校正数据；对差分待校正数据进行重组及拼接，得到待校正数据；确定待校正数据对应的理想数据，并基于理想数据确定校正参数；通过校正参数对采样数据进行校正，得到校正数据，并将校正数据与理想数据进行比对；在校正数据与理想数据一致时，存储校正参数。本

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113434318 B (45)授权公告日 2022.08.23 (21)申请号 202110700397.5 (56)对比文件 (22)申请日 2021.06.23