一种芯片测试方法、装置、终端设备及存储介质.pdfVIP

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2023-06-22 发布于四川
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一种芯片测试方法、装置、终端设备及存储介质.pdf

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本申请适用于集成电路测试领域，提供了一种芯片测试方法、装置、终端设备及存储介质。本申请实施例中获取控制指令，根据上述控制指令以第一预设温度和第二预设温度分别获取芯片的第一最大基准电压和第一最小基准电压；根据上述第一最大基准电压和上述第一最小基准电压计算上述芯片的温度校准值，其中，上述温度校准值用于对上述芯片基准电压的温度特性进行校准；将上述温度校准值写入上述芯片的存储器中，对上述芯片进行测试，从而提高芯片的测试结果的准确性。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113406473 B (45)授权公告日 2022.03.22 (21)申请号 202110533296.3 (56)对比文件