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本发明公开了一种三温测试系统及控制方法,通过控制模块发送温度切换指令至热流模块,热流模块即可实现温度的自动切换,只要输入测试启动指令,整个温度切换和芯片测试过程就可以自动实现,直至测试完成,整个过程快捷方便,中间无需人工跟进和处理,极大地提高了测试的速度,省时省力,降低了人工成本;热流模块采用热流罩,可以提供快速高低温循环切换,满足快速测试的要求;测试机内置Magnum2测试系统,可以对芯片进行较为全面的功能检测,满足芯片测试要求。
(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113433446 A (43)申请公布日 2021.09.24 (21)申请号 202110559021.7 (22)申请日 2021.05.21 (71)申请人 芯天下技术股份有限公司
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