一种低功耗的屏蔽栅半导体功率器件测试装置.pdfVIP

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2023-06-16 发布于四川
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一种低功耗的屏蔽栅半导体功率器件测试装置.pdf

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本发明提供一种低功耗的屏蔽栅半导体功率器件测试装置，涉及导体功率器件测试技术领域，以解决在进行半导体功率器件测试时，长时间的接触会使得产生高热，即便测量出现误差，也很难及时发现，导致测试数据失准，并且附着的灰尘，在高热环境下会产生静电，从而影响电阻测试的问题，包括支撑底座；所述支撑底座为倒置的T型状结构；所述支撑底座的竖板前端固定安装有横向水平的调整箱，调整箱为长方体箱状结构，调整箱的前端侧壁为开口端。本发明实现了在带动挂座移动的同时，散热扇又能够对检测台进行散热，可避免器件在检测时高温而影响数

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113238136 A (43)申请公布日 2021.08.10 (21)申请号 202110568271.7 (22)申请日 2021.05.25 (71)申请人陈海彬地址 362