一种PROM芯片管脚与管座接触性检测方法.pdfVIP

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2023-06-16 发布于四川
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一种PROM芯片管脚与管座接触性检测方法.pdf

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本发明提供一种PROM芯片管脚与管座接触性检测方法，PROM芯片的I/O管脚均具有ESD保护二极管电路，ESD保护二极管电路包括与I/O管脚连接的二极管D1和二极管D2，检测方法包括：将PROM芯片的VCC管脚与供电电源断开，并将PROM的VCC管脚连接到一FPGA检测管脚；将PROM芯片的GND管脚与GND网络断开，并将供电电源串接一个加载电阻后加载于PROM芯片的GND管脚；通过FPGA检查剩余管脚的高低电平状态：若FPGA检测到I/O电平为高，则PROM管脚与管座之间的接触性良好，否则管脚

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113241111 A (43)申请公布日 2021.08.10 (21)申请号 202110537133.2 (22)申请日 2021.05.18 (71)申请人北京轩宇空间科技有限公司