一种计算缺陷团簇基态构型的方法.pdfVIP

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2023-06-15 发布于四川
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一种计算缺陷团簇基态构型的方法.pdf

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本发明公开了一种计算缺陷团簇基态构型的方法，包括设置缺陷团簇尺寸n0以及团簇构型尺寸上限n1；优化缺陷团簇构型，判断优化的缺陷团簇尺寸n是否大于n0；建立缺陷团簇能量与局域结构的离散关系，获得缺陷团簇能量的离散化模型；根据所述离散化模型计算个体能量，优化缺陷团簇构型；最后判断优化后的缺陷团簇尺寸n是否大于n1，获得缺陷团簇尺寸在1‑n1之间缺陷团簇的构型和能量。该方法基于离散化模型对缺陷团簇基态构型进行计算，可高效地获得材料中较大型空位与自间隙团簇的基态构型，节约计算时间的同时，拓展了团簇尺寸上

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113160905 A (43)申请公布日 2021.07.23 (21)申请号 202110419760.6 (22)申请日 2021.04.19 (71)申请人中国科学院合肥物质科学研究院