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本发明提供一种硅‑氮化镓复合衬底、复合器件及制备方法,硅‑氮化镓复合衬底包括硅基底、浅沟槽隔离结构、III‑N族外延结构及第二硅层;硅基底包括第一硅层;浅沟槽隔离结构位于硅基底上且贯穿第一硅层;III‑N族外延结构位于第一硅层的表面包括GaN沟道层及AlGaN势垒层且位于浅沟槽隔离结构的外侧;第二硅层位于第一硅层的表面且位于浅沟槽隔离结构的内侧。本发明可在同一平面集成硅基及氮化镓基的复合衬底,进一步可制备共平面集成硅‑氮化镓复合器件,从而在晶圆制造阶段实现硅器件和氮化镓器件共平面、小间距片上互联
(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113130297 A (43)申请公布日 2021.07.16 (21)申请号 202110313173.9 (22)申请日 2021.03.24 (71)申请人 聚能晶源(青岛)半导体材料有限公
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