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2023-06-14 发布于四川
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本发明提供一种电子装置，包括多个外围元件、闪存及测试模式电路。闪存提供多个测试参考数据。测试模式电路反应于测试进入信号将基于测试参考数据的多个测试数据分别提供至外围元件，以进行外围元件的测试。本发明实施例的电子装置中，将通过闪存提供的数据作为测试模式电路进行测试所参考的测试参考数据，而不需从电子装置输入测试相关数据，因此在进入测试模式时可省略输入接脚而把大部分的或全部的接脚用于输出数据或测试结果。藉此，可以提高电子装置进行测试的能力，且可以缩短测试的时间及成本。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113125876 A (43)申请公布日 2021.07.16 (21)申请号 202011618976.7 (22)申请日 2020.12.30 (30)优先权数据 108148311