芯片的自动测试系统及方法.pdfVIP

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2023-06-12 发布于四川
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芯片的自动测试系统及方法.pdf

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本发明提供一种芯片的自动测试系统及方法，所述芯片的自动测试系统包括：客户端，用于发送针对所述芯片的测试指令；服务端，包括主板及与其连接的芯片；其中，所述主板用于接收所述测试指令，将所述测试指令转换为测试文件，并将所述测试文件传输至所述芯片；所述芯片用于在接收到所述测试文件后，触发与测试文件相关的测试项目，生成该芯片的功能测试结果，并通过所述主板将所述芯片的功能测试结果分享至所述客户端。本发明摒弃了现有测试方法，提升了芯片测试结果的可靠性，节约了测试时间。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113030702 A (43)申请公布日 2021.06.25 (21)申请号 202110261945.9 (22)申请日 2021.03.10 (71)申请人英业达科技有限公司地