GB/T 4937.23-2023半导体器件　机械和气候试验方法　第23部分：高温工作寿命.pdf

ICS31.080.01 CCSL40 中华人 民共和 国国家标准 / — / : GBT4937.23 2023IEC60749-232011 半导体器件 机械和气候试验方法 : 第 部分 高温工作寿命 23 — — Semiconductordevices Mechanicalandclimatictestmethods : Part23Hihtem eratureoeratin life g p p g ( : , ) IEC60749-232011IDT 2023-05-23发布 2023-12-01实施 国家市场监督管理总局 发 布 国家标准化管理委员会 / — / : GBT4937.23 2023IEC60749-232011 前 言 / — 《 : 》 本文件按照 标准化工作导则 第 部分 标准化文件的结构和起草规则 的规定 GBT1.1 2020 1 起草。 / 《 》 。 / 本文件是 半导体器件 机械和气候试验方法 的第 部分 已经发布了 GBT4937 23 GBT4937 以下部分: ——— : ; 第 部分 总则 1 ——— : ; 第 部分 低气压 2 ——— : ; 第 部分 外部目检 3 ——— : ( ); 第 部分 强加速稳态湿热试验 4 HAST ——— : ; 第 部分 快速温度变化 双液槽法 11 ——— : ; 第 部分 扫频振动 12 ——— : ; 第 部分 盐雾 13 ——— : ( );