一种X射线能谱联合测量谱仪及其实现方法.pdfVIP

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2023-06-08 发布于四川
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一种X射线能谱联合测量谱仪及其实现方法.pdf

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本发明公开了一种X射线能谱联合测量谱仪，用于在同一方位上联合晶体衍射方法和滤片堆栈方法测量X射线能谱，包括前后依次共轴安装于屏蔽外壳内的辐射屏蔽模块、晶体衍射测谱模块和滤片堆栈测谱模块，以及用于对中的瞄准组件。本发明联合了晶体衍射和滤片衰减两种测谱方法，解决了现有技术无法同时实现高精度和大量程的技术难题，在单一视角内实现了高精度大量程的能谱测量，可用于诊断激光X射线源、X光管射线源等从keV至MeV的能谱数据。本发明具有测谱范围大，能谱分辨高，抗碎片打击，抗等离子体喷溅，占用空间立体角小，应用范

(19)国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112859146 B (45)授权公告日 2022.06.28 (21)申请号 202110138009.9 CN 101405596 A,2009.04.08