一种集成电路测试数据记录方法.pdfVIP

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2023-06-01 发布于四川
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一种集成电路测试数据记录方法.pdf

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本发明公开了一种集成电路测试数据记录方法，1)将本批次电路的所有编号记录在编号池中；2)在测试时，根据测试电路板上的位置定义好各个电路的位置，操作人员只需要根据电路板上的电路在软件中对应位置输入编号；3)比对输入的电路编号是否在编号池中；4)比对输入的电路编号在之前测试中是否已经出现过；5)根据SQL中记录的编号和结果生成报表。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112526317 A (43)申请公布日 2021.03.19 (21)申请号 202011272703.1 (22)申请日 2020.11.13 (71)申请人上海华岭集成电路技术股份有限公