一种卫星综合电子机内测试设计方法.pdfVIP

下载本文档

2
0
约1万字
约 12页
2023-06-01 发布于四川
举报
版权申诉

一种卫星综合电子机内测试设计方法.pdf

1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

本发明公开一种卫星综合电子机内测试设计方法，首先根据综合电子单机物理功能划分和测试性要求，设计分层的BIT架构；然后对产品进行扩展FMEA分析，确定产品的故障模式以及选用测试点和测试点设计电路；筛选出对任务功能有显著影响的故障模式及其测试点；最后根据测试点特性，结合工程实践经验设计测试电路完成BIT设计。本方案通过对产品进行扩展FMEA分析，优选出反映产品关键功能和故障判断的测试点；并针对测试点特性设计专门测试电路，利用单机内部软硬件资源对测试点采集或测试，能够在不打开设备结构的情况下，缩小故障

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112526269 A (43)申请公布日 2021.03.19 (21)申请号 202011382151.X (22)申请日 2020.12.01 (71)申请人山东航天电子技术研究所