基于批量叶片曲面测量数据统计分析的定位点集选取方法.pdfVIP

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2023-05-31 发布于四川
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基于批量叶片曲面测量数据统计分析的定位点集选取方法.pdf

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本发明公开了一种基于批量叶片曲面测量数据统计分析的定位点集选取方法，包括步骤：将叶片曲面CAD模型依据指定精度进行均匀离散，所得离散点集为初始定位点集P；从批量叶片零件中抽取样本叶片，逐件测量样本叶片的初始定位点集P，逐件累加测点数据并进行统计分析，获得最小样本量n；在最小样本量中，以P中各点测量数据的方差为指标，若小于给定方差阈值e1，则作为候选定位点集Q；在最小样本量中，以Q中各相邻点测量数据的Spearman秩相关系数为指标，若大于给定阈值e2，则作为最优定位点集T。避免了传统定位点选取方

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 112506136 B (45)授权公告日 2021.12.07 (21)申请号 202011454209.7 (56)对比文件